摄片影像不清晰

初步判定为X射线质和量的改变，直接或间接地损坏图像品质。

关闭电源，打开电源箱，找到控制板上的SW1并调节至1处，找到SW2调节至C处。调整后按操作室内控制板上的开机键，检查主板数码显示是否为C1，如是则已经入手动校正模式。按开机键开机后，kV无显示，mA显示为0，此时调节电流设定开关，mA显示为1（1~10），kV显示为50（50~120），mA显示处（1~10）数字分别对应10 mA、20mA、50 mA、100 mA、120 mA、160 mA、250 mA、320 mA、400 mA、500 mA，进入正常校正状态。按手闸进行曝光，此时mA处显示数值为250，实际显示数值为256.3。现在调试的条件为120 kV、250 mA，按手闸曝光后实际输出的X线量为256.3 mA,高出设置量6.3 mA，高出的部分在±5%的差值范围内，不需要调整。若按手闸曝光后实际输出的X线量很高或很低，超出或低于设置的X线量较多，多次曝光校正都无法调试至±5%的差值范围内，此时则需要调节增加或减少键来更改现实的数值，调整后按下登记开关，保存所更改的内设参数，从而完成实际输出X线量的设定。按下自动设定开关键，转变显示模式，同时进行自动保存。

如此类推对其他的kV档和mA档的设置进行一一校正，这样以保证使用时每个条件的实际输出X线量与设置的X线量基本相同。在进行校正的同时，需要按下技术选择开关（选择片盒状态），这样可以连续曝光校正。如按下技术选择开关（使用平板探测器状态）则每次校正曝光必须对准平板探测器），进行信息输入、存贮图像等工作，这样操作会比较繁琐。